複素解析幾何セミナー

過去の記録 ～05/02｜次回の予定｜今後の予定 05/03～

開催情報 月曜日　10:30～12:00　数理科学研究科棟(駒場) 128号室
担当者 平地 健吾, 高山 茂晴

2024年11月11日(月)

10:30-12:00   数理科学研究科棟(駒場) 128号室
稲山 貴大 氏 (東京理科大学)
Singular Nakano positivity of direct image sheaves (Japanese)
[ 講演概要 ]
本講演では特異計量の中野正値性について考察する．現状，特異計量の中野正値性については，(i)滑らかな中野正値計量によるDemailly型の近似列が存在する，という特徴付けと，(ii)計量に関してヘルマンダー型のL^2評価式が成り立つ，という特徴付けが存在することが知られている．本講演ではまずこれら二つの定義を比較し，(i)の条件から(ii)の条件が従うことを説明する．その後，複素多様体X，Y間の適当なファイブレーションf: X→Y及びX上の半正値特異計量を持つ直線束(L, h)から自然に定まる順像層上に，どのようなとき(i)及び(ii)の意味で中野正値な特異計量が構成されるかということを考察する．応用として，種々の消滅定理が従うことを証明する．本講演は，松村慎一氏（東北大学）と渡邊祐太氏（中央大学）との共同研究に基づく．
[ 参考URL ]
https://forms.gle/gTP8qNZwPyQyxjTj8